l 美泰涂层测厚仪MCT200存储功能l 存储测量值仪器中将存储单元分成20个文件（F00-F19），每个文件可存储最多50个厚度测量值。厚度测量后可直接按键将测量值存入当前文件中；如果要改变当前文件，需要按下述步骤进行：
① 在厚度测量状态下，按键，屏幕显示当前文件名称（例如：F02）和当前文件中的记录总数；
② 按键及键改变当前文件；
③ 按键结束操作。
存储厚度值时，如果当前文件中的记录总数已经达到50个，则仪器会自动取消本次存储操作，并且屏幕会显示“FULL”提示信息。l 美泰MCT200涂层测厚仪清空文件如果要清空某个文件中的所有已存储内容，则需要按照下述步骤进行：
① 在厚度测量状态下，按键，屏幕显示当前文件名称和当前文件中的记录
② 总数。
③ 按键及键选择要清空的文件名称。
④ 按键清空选定的文件。屏幕同时显示“-dEL”提示信息。
⑤ 按键结束操作。l 查看/删除存储记录仪器中存储的厚度值可以调出查看，也可以删除某个厚度记录。操作方法如下：
① 在厚度测量状态下，按键，屏幕显示当前文件名称和当前文件中的记录总数；
② 按键及键选择要查看的记录所在的文件名称；
③ 按键进入选定的文件。屏幕显示出该文件中的当前记录编号（如：L012），以及该记录的内容；
④ 按键及键选择要查看的记录编号，该记录的内容和记录编号交替显示在屏幕上；
⑤ 按键删除该记录。屏幕同时显示“-dEL”提示信息；
⑥ 按键结束操作。l 改变测量方式本仪器有两种测量方式：单次测量方式和连续测量方式。
单次测量方式：测头每接触被测件一次，随着一声鸣响，屏幕显示测量结果；
连续测量方式：不提起测头进行连续测量，测量过程中不再伴鸣响，屏幕实时显示测量结果的变化。
两种测量方式的转换方法：开机状态下，按键，仪器在单次测量方式（CONT OFF）和连续测量方式（CONT ON）之间进行切换。l 改变单位制式该仪器可以公制（μm）或者英制（mil）显示厚度值。在测量过程中，按键可以改变单位制式，在公制和英制之间进行转换。l 背光功能仪器液晶屏带有EL背光功能，以便在光线昏暗处可以阅读测量值。由于背光打开后，电镀测厚仪，仪器功耗明显增加
美泰涂层测厚仪MCT200校准：
用一足够厚度的、电学性质相似的金属衬垫金属标准片或试件，镀层测厚仪，注意必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。
如果待测覆盖层的曲率很大，则选择有覆盖层的标准片时，其曲率应与待测试件的曲率相同。美泰涂层测厚仪MCT200校准方法本仪器有三种校准方法： 零点校准、两点校准，还有一种针对测头的基本校准。
注意：
在温度变化极大的情况下，如冬季或盛夏在室外操作时，测厚仪，应在与待测箔厚度接近的标准片上进行校准。校准时的环境温度应与使用时的环境温度一致。美泰涂层测厚仪MCT200零点校准在每次开机后、更换测头、更换电池、环境温度变化较大或者测量出现偏差时应对测头进行零点校准。此步骤对保证测量度十分关键。如有必要，可重复多次。步骤如下：
在基体上进行一次测量，屏幕显示<X.Xμm >；然后提起测头；
按键，屏幕显示<0.0μm >；
重复上述①、②步骤可获得更为的零点，提高测量。零点校准完成后就可进行测量了。美泰涂层测厚仪MCT200二点校准两点校准法又分一试片法和二试片法。
美泰涂层测厚仪MCT200一试片法
这一校准法适用于高测量及小工件、淬火钢、合金钢
先校零点（如上述）；
在厚度接近于待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量，屏幕显示<XXXμm >；
按键进入二点校准状态，屏幕上的“CAL”标识开始闪动；
用、键修正读数，使其达到标准片标称值；
连续按两次键。“CAL”标识消失。
校准已完成，可以开始测量了。
注意：
用F10 测头测量金属镀层时，应使用两点校准法校准。
美泰涂层测厚仪MCT200二试片法
根据待测覆盖层厚度选择两个标准片，待测覆盖层厚度应该在两个标准片的厚度值之间。这种方法尤其适用于粗糙的喷沙表面和高测量。
先校零值；
在较薄的标准片上进行一次测量；
按键进入二点校准状态，屏幕上的“CAL”标识开始闪动；
用键修正读数，使其达到较薄标准片的标称值；
按键，然后在较厚的标准片上进行一次测量；
用键修正读数，使其达到较厚标准片的标称值；
按键。“CAL”标识消失。
美泰科仪(图)|电镀测厚仪|测厚仪由北京美泰科仪检测仪器有限公司提供。北京美泰科仪检测仪器有限公司（www.mitech-ndt.com）是专业从事“超声波探伤仪,里氏硬度计,超声波测厚仪”的企业，公司秉承“诚信经营，用心服务”的理念，为您提供优质的产品和服务。欢迎来电咨询！联系人：朱春红。
